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报告题目：一、环境胁迫下使用高敏感光学干涉技术监测植

物的纳米级实时生长波动

二、光学相关断层扫描技术（OCT）的应用

报告时间：2017年7月4日（星期二）下午4:00-6:00

报告地点：图书馆报告厅

报 告 人：門野博史 教授

Lim Yi Heng博士

报告人简介：

門野博史，日本埼玉大学理工学院教授，博士研究生导师。曾担任日本埼玉县环境科学国际中心所长。1984年获得北海道大学工学部硕士学位，1987年于北海道大学获得工学博士学位。曾多次参加国际学术交流。近年来主要从事统计光学，干涉分析技术在环境方面的应用，环境评价学和光学传感等研究，并开发出专利设备——统计干涉测量仪SIT（Statistical Interferometry Technique）和功能性光学相干断层扫描。先后在国际杂志和学报发表论文40余篇。

Lim Yi Heng，工学专业博士。2012年于日本筑波大学获工学硕士学位，2016年于日本宇都宫大学获工学博士学位。现就职于日本埼玉大学。从事光学测量仪器的开发与应用。近年来主要从事多功能光学相关断层扫描技术的开发，并将其技术应用于眼科疾病的诊断。已在学术刊物上发表论文10余篇。现主要从事将此技术应用于逆境胁迫下植物内部变化的监测。

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2017-7-4